Доступно по запросу
Цена по запросу
Доступно по запросу
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTRF
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTHC
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTHA
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: RL
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTCK
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTV
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTV
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GTV
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GT
Цена по запросу
Доступно по запросу
Парт.: GT
Цена по запросу
Доступно по запросу
Установка для тестирования оптической мощности, электрической мощности, длины волны, FFP и других характеристик полупроводникового волоконного лазера
Цена по запросу
Доступно по запросу
Установка для тестирования полупроводниковых лазерных устройств (COS, TO56, C-mount, F-mount, CCP, Butterfly и др.)
Цена по запросу
Доступно по запросу
Установка серии Rb-ct1000 для комплексного тестирования производительности COS
Цена по запросу
Доступно по запросу
Оптическая мощность, электрическая мощность, длина волны, FFP и другие характеристики каждого отдельного чипа автоматически измеряются путем быстрого и неповреждающего испытания нескольких голых лазерных стержней
Цена по запросу
Доступно по запросу
Выполнение автоматического тестирования характеристик устройств с корпусами типа COS, C-mount, TO и других
Цена по запросу