- Дихроичный фильтр серии BrightLine® super-resolution / TIRF, 405 нм
- Дихроичный фильтр серии BrightLine®, 405 нм
- 22.0 мм x 29.0 мм x 1.1 мм
- 25.2 мм x 35.6 мм x 1.1 мм
- 417.4 – 900 нм
Официальный дистрибьютор Semrock в РФ и странах Таможенного Союза АО «ЛЛС» предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции Semrock, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Компания Semrock предлагает большой выбор дихроичных фильтров. Они имеют одну подложку с покрытиями, нанесенными на одну или обе стороны. Это помогает увеличить пропускание и уменьшить нежелательные эффекты, связанные с несколькими границами раздела.
Благодаря передовой технологии нанесения покрытия фильтры от компании Serock обладают высокой стойкостью к воздействию окружающей среды и не демонстрируют ухудшения параметров даже в случае воздействия излучения высокой мощности.
Di02-R405-25x36 - Лазерный дихроичный фильтр серии BrightLine® для лазера с длиной волны 405 нм
Фильтры серии BrightLine оптимизированы для самых популярных лазеров, используемых в флуоресцентной визуализации, включая новейшие твердотельные лазеры. Они имеют высокую отражательную способность на длине волны лазера и используют антиотражающие (AR) покрытия, чтобы минимизировать артефакты изображения, возникающие в результате когерентного лазерного излучения. Этот дихроичный лазерный фильтр создан для отражения лазерных лучей диаметром до 2,5 мм.
Особенности
- Лазерный дихроичный фильтр с краем на λ = 414 нм
- Rabs > 94% @ 372 - 410 нм
- Ravg > 90% @ 350 - 372 нм
- Тavg > 93% @ 417.4 - 900 нм
- Уровень плоскостности: Лазерный (радиус кривизны порядка 30 м)
Если Вы заинтересованы в улучшенной версии фильтра (с лучшим значением плоскостности), обратите внимание на фильтр Di03-R405-t1/t3 серии BrightLine Super-resolution / TIRF:
Фильтр Di03-R405-t1/t3
λ = 405 нм - лазерный дихроичный фильтр BrightLine® для обеспечения супер-разрешения / TIRF
Все светоделители в этой категории имеют исключительную отражательную способность на длинах волн лазера и более широкие полосы отражения - в УФ для фотоактивации и методов, требующих сверхразрешения. Кроме того, они имеют расширенные области пропускания - в инфракрасном диапазоне до 1200 нм и антиотражающие (AR) покрытия для минимизации дефектов изображения, возникающих в результате когерентного лазерного излучения.
Данный фильтр доступен в двух вариантах толщины и обеспечивают лучшую в отрасли плоскостность для минимального смещения фокуса и оптических аберраций волнового фронта лазерного луча, что позволяет использовать популярные методы получения изображений и супер-разрешения, такие как TIRF, PALM, STORM и STED.
-
1λ P-V RWE на 1 мм, оптимизированный для отражения лазерных лучей диаметром до 10 мм (радиус кривизны фильтра примерно 255 м)
-
λ / 5 P-V RWE на 3 мм, оптимизированный для отражения лазерных лучей диаметром до 22,5 мм (радиус кривизны фильтра примерно 1275 м)
Особенности
- Лазерный дихроичный фильтр с краем на λ = 414 нм
- Rabs > 94% @ 372 - 410 нм
- Ravg > 90% @ 350 - 372 нм
- Тavg > 93% @ 417.4 - 1200 нм
- Уровень плоскостности: Super-resolution / TIRF (радиус кривизны 255 - 1275 м)
Опции для заказа
- Оправа: да/нет
- Форма: круглая или прямоугольная
- Доступные размеры:
- Диаметр: 5 - 50.8 мм
- Прямоугольные размеры: 5 - 55 мм
Компания АО «ЛЛС» является официальным дистрибьютором компании Semrock на территории Российской Федерации и стран Таможенного Союза, и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку, а также поставку образцов.
Полоса отражения 1
|
372 – 410 нм @ Rabs > 94% |
Полоса отражения 1 (p- поляризация)
|
372 – 410 нм @ Rabs > 90% |
Полоса отражения 1 (s- поляризация)
|
372 – 410 нм @ Rabs > 98% |
Полоса отражения 2
|
350 – 372 нм @ Ravg > 90% |
Краевая длина волны
|
414 нм |
Полоса пропускания
|
417.4 – 900 нм или 417.4 – 1200 нм@ Tavg > 93% |
Длина волны лазера
|
375 +/- 3 нм & 405 +/- 5 нм |
Угол падения
|
45° (40° - 50°) |
Половина угла при вершине конуса
|
0.5° |
neff
|
1.95 |
Плоскостность
|
лазерный уровень (радиус кривизны 30 м) |
Искажение волнового отраженного фронта
|
< 6λ P-V RWE @ 632.8 нм или < 1λ P-V RWE @ 632.8 нм / < 0.2λ P-V RWE @ 632.8 нм |
Размеры
|
25.2 мм x 35.6 мм |
Допуск на размеры
|
± 0.1 мм |
Толщина фильтра
|
1.05 мм или 3.0 мм |
Допуск на толщину
|
± 0.05 мм или ± 0.1 мм |
Световой диаметр
|
≥ 80% |
Качество поверхности
|
S-D 60-40 |
Материал подложки
|
Плавленый кварц |
Толщина подложки
|
1.05 мм или 3.0 мм |
Допуск на толщину подложки
|
± 0.05 мм или ± 0.1 мм |
Расположение фильтра
|
Отражающая поверхность обозначена номером детали - Ориентация в направлении падающего света |