Система 3D профилирования толщин и поверхностей
Подробности
Длина волны—1310 нм
- 1310 нм
Глубина сканирования—5 мм
- 3.5 мм; 7 мм
- 5 мм
Скорость сбора данных—100 кГц
- 100 кГц
Диапазон измерения толщины—20 мкм - 5 мм
- 20 мкм - 5 мм
В корзину
Быстрый заказ
Характеристики
Длина волны
—
1310 нм
Диапазон глубины сканирования
—
3.5 - 7 мм
Скорость сбора данных (A-сканирование)
—
1.05 - 100 кГц
Осевое разрешение (ось Z)
—
<0,5 мкм
Размер светового пятна (разрешение по боковой оси [XY])
—
2.2 - 146 мкм, тип. 2.2 - 25 мкм
Расстояние зазора
—
0,5 - 100 мм для стандартных зондов, до 1 м для нестандартных зондов
Повторяемость
—
< 1 мкм
Диапазон измерения толщины
—
10 мкм - 5 мм
Материалы
—
стекло, полимеры, многослойные пленки, покрытия, пластмассы, силикон, жидкости
Отражательная способность материалов
—
0.1 - 100%
Все характеристики
Пусконаладка и обучение персонала
Доступен лизинг, кредит, рассрочка
Подберем оборудование под ваши задачи
Гарантийное и постгарантийное обслуживание без привлечения производителя
Бесплатная доставка
Система профилирования MICROCAM обеспечивает быстрое и надежное бесконтактное измерение толщины прозрачных и полупрозрачных материалов.
Ключевые особенности:
- Широкий спектр 3D-измерений с микронной точностью на внутренних и внешних поверхностях: измерение шероховатости; обнаружение дефектов - трещины, царапины
- Измерение толщины покрытий полупрозрачных материалов
- Полностью настраиваемый автоматический контроль
- Волоконно-оптические зонды легко интегрируются в полностью автоматизированные и роботизированные системы контроля
- Сокращенное время цикла проверки: до 100 000 измерений в секунду, каждое из которых представляет собой трехмерную топографическую точку
- Автоматическая отчетность, позволяющая сэкономить время: после сканирования можно автоматически создавать отчеты о непродолжительности работы, а результаты заносить в журнал.
- Возможность адаптации к агрессивным средам: радиоактивным, очень горячим, криогенным, вакуумным и т. д.
АО «ЛЛС» является дистрибьютором компании Novacam Technologies Inc. на территории РФ и стран СНГ и предлагает наиболее выгодные условия поставки продукции, полную техническую поддержку. Получить дополнительную информацию вы можете, обратившись в нашу компанию.
Документы
3D Optical Profilometer
565,4 кб
Длина волны
|
1310 нм |
Диапазон глубины сканирования
|
3.5 - 7 мм |
Скорость сбора данных (A-сканирование)
|
1.05 - 100 кГц |
Осевое разрешение (ось Z)
|
<0,5 мкм |
Размер светового пятна (разрешение по боковой оси [XY])
|
2.2 - 146 мкм, тип. 2.2 - 25 мкм |
Расстояние зазора
|
0,5 - 100 мм для стандартных зондов, до 1 м для нестандартных зондов |
Повторяемость
|
< 1 мкм |
Диапазон измерения толщины
|
10 мкм - 5 мм |
Материалы
|
стекло, полимеры, многослойные пленки, покрытия, пластмассы, силикон, жидкости |
Отражательная способность материалов
|
0.1 - 100% |
Габариты
|
445 x 445 x 178 мм |
Применение:
- Офтальмология: контроль контактных линз и интраокулярных линз (ИОЛ)
- Полупроводники: покрытие MEMS-устройств, полупроводников, пластин, гибридных схем, топливных и солнечных элементов
- Автомобилестроение: защитные пленки
- Оптика: контроль толщины травления и напыления на волноводы
- Электроника: нанесение толстопленочного фоторезиста на электронные пластины.